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ESD静电放电试验时,被试设备处在正常工作状态.
试验正式开始前,试验人员对试品表面以20次/秒的放电速率扫视一遍,以便寻找试品的敏感部位(凡扫视中有引起试品数显跳动,动作异常迹象的部位,都作为正式试验时的重点考查部位,应记录在案,并在正式试验时应在其周围多增加几个考查点).
静电放电测试中的放电方式
静电放电试验有直接和间接两种.标准规定直接放电以接触放电为方式,只有在不能用接触放电的地方才改用气隙放电.
对间接放电,标准中是用金属板来模拟被试设备附近的放电物体.由于是金属板,对间接放电无一例外是采用接触放电为的放电方式.
实验室的型式试验 静电放电分实验室的型式试验和现场试验两种,标准规定,实验室的型式试验是设备和咨询采用的试验方式.现场试验则受制于现场环境,主要用于现场情况摸底,而不能作为试验.现场试验要征得用户和制造商双方一致同意后才能进行. 试验配置 由于静电放电的电流波形十分陡峭,*己经达到0.7~1ns,其包含的谐波成分至少要达到500MHz以上。
微电子电路面临的风险比以往任何时候都大,罪魁祸首是静电放电(ESD)。这些祸害是隐秘的,特别*攻击敏感的IC。单次静电放电事件就可以将PCB送入地狱。抗静电放电设计只要错失一步就可能意味着延误上市时间、影响开发进度,以及激怒客户。在某些高压力情况下,甚至意味着你的饭碗不保。
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